產(chǎn)品介紹

　　為了將轉(zhuǎn)換效率推至熱力學(xué)極限，有機(jī)太陽(yáng)能電池和鈣鈦礦太陽(yáng)能電池努力將開(kāi)路電壓（Voc）提高至Shockley-Queisser極限。 全新設(shè)計(jì)的REPS_Ultra是一個(gè)綜合系統(tǒng)，幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中太陽(yáng)能電池的Voc損失，并提供改進(jìn)建議。

　　1.探索科學(xué)的極限：REPS_Ultra通過(guò)提供準(zhǔn)確而全面的數(shù)據(jù)，使研究人員能夠探索科學(xué)的極限。

　　2.優(yōu)異的弱光偵測(cè)性能：創(chuàng)新型的REPS_Ultra可以偵測(cè)低至10-6% nit的弱光亮度，具有8個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍。 這一性能比前代REPS_Pro提高了1,000倍，比市場(chǎng)上其他同類(lèi)產(chǎn)品的4個(gè)數(shù)量級(jí)動(dòng)態(tài)范圍強(qiáng)10,000倍。 其優(yōu)異的極弱光偵測(cè)能力特別適合有機(jī)材料或新型材料研究，可協(xié)助研究團(tuán)隊(duì)探索科學(xué)的極限。

　　3.提升的量測(cè)速度：全新設(shè)計(jì)的REPS_Ultra比前代REPS_Pro的量測(cè)速度顯著提升了30%，可在30秒內(nèi)完成40個(gè)點(diǎn)位掃描，大幅提升研究團(tuán)隊(duì)的效率。

特點(diǎn)

　● 可測(cè)量：絕對(duì)電致發(fā)光量子效率 (EL-EQE)、電致發(fā)光光譜隨電壓的變化 [EL光譜(V)]、電流-電壓特性曲線(xiàn) (J-V曲線(xiàn))、外量子效率-電流密度曲線(xiàn) (EQE-J)。

　● 軟件可以顯示的圖表包括：EL-EQE、多EL光譜、JVL曲線(xiàn)、Voc loss 直方圖。

　● 該系統(tǒng)可以計(jì)算和分析熱力學(xué)Voc、輻射復(fù)合Voc和非輻射復(fù)合Voc。

　● 波長(zhǎng)檢測(cè)范圍：300~1100nm; 并且可以擴(kuò)展（選配）。

　● NIST可追溯的絕對(duì)輻射校準(zhǔn)（瓦特，從300~1100納米）。

　● EL-EQE檢測(cè)范圍：1 x 10-6% （8 orders）。

　● EL-EQE重複性>99%。

　● EL-EQE reproducibility >99%.

　● Glove Box 整合工具包。

　● 客制的測(cè)試夾具。

規(guī)格

REPS系統(tǒng)另有進(jìn)階類(lèi)型（REPS Pro），其規(guī)格比較如下：

應(yīng)用

Enlitech REPS Voc損耗分析儀可用于：

　● 改善OPV的Voc-loss

　● 改善鈣鈦礦 Voc-loss

　●電荷傳輸狀態(tài)識(shí)別