光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng)適用測(cè)試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率)。 PLQY 是評(píng)價(jià)發(fā)光材料的重要指標(biāo)，除了可以用來對(duì)材料進(jìn)行初級(jí)分類的基本參數(shù)，且對(duì)于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。

在半導(dǎo)體器件中，不完好的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測(cè)系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號(hào)處理技術(shù)來增強(qiáng)和突破光電流信號(hào)檢測(cè)極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個(gè)量級(jí)）*。

光焱科技QE-R量子效率測(cè)試系統(tǒng)采用了高效的橢圓反射器，比傳統(tǒng)的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內(nèi)集成了所有光學(xué)和機(jī)械部件，節(jié)省了大量實(shí)驗(yàn)室空間，但仍保持了各種類型的太陽(yáng)能電池測(cè)試夾具的靈活性。并且也提供簡(jiǎn)單而完整的手套箱集成方案。

Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)檢測(cè)儀，可視覺化呈現(xiàn)QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌；最快2分鐘可透過Pseudo J-V評(píng)估材料效率的極限；極限3秒，就可以了解QFLS費(fèi)米能級(jí)分布情況，1眼掌握材料整理全貌、2分鐘評(píng)估材料潛力、3秒鐘分析QFLS態(tài)樣。

APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種優(yōu)良探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種優(yōu)良光感測(cè)器的測(cè)試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測(cè)器、Apple Watch 血氧光感測(cè)器、TFT 影像感測(cè)器、源動(dòng)態(tài)圖元感測(cè)器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測(cè)器等。